ni awr design environment(电磁仿真设计软件)v15.0.4免费版

niawrdesignenvironment是一款电磁仿真设计软件，可以帮助您设计电子设备电路，并将相应的构造机制提取到相应的设计环境中，使您的产品更具兼容性。

ni awr设计环境是一款电磁仿真设计软件，可以帮助您设计电子设备电路，并将相应的构造机制提取到相应的设计环境中，使您的产品具有更高的兼容性。

特征

1. 创新

NI AWR 15 强大而直观的用户界面可确保为当今的高频半导体和PCB 技术提供智能、可定制的设计流程，从而实现最佳的工程生产力。

2. 准确

集成系统、电路和电磁仿真技术，可在原型设计和测试之前快速准确地分析器件性能，从而节省开发时间和成本。

3. 智能

设计过程自动化将仿真模型、第三方工具和布局连接到制造过程，从早期概念探索到工程签核。

4. 统一设计捕获

提供从前到后的物理设计流程以及动态链接的电气和布局设计项目。放置在电气原理图中的组件根据标准、定制和/或供应商提供的组件库自动生成同步的物理布局。

5 仿真与分析

用于研究线性和非线性网络行为的集成电路、系统和电磁仿真技术。设计人员可以对互连进行原位EM 提取，根据系统链路预算制定组件规格，并使用系统测试台根据通信标准分析设备性能。

六、设计流程

通过参数化子电路支持复杂的分层项目，以便于优化和调整。电路、系统或基于EM 的子电路可以快速开发并用于填充当今RF 前端电路中常见的更大、更复杂的网络。

7. 互操作性和制造

第三方和行业标准工具的互操作性，可交换原理图或网表导入、双向EM 联合仿真、电气规则检查(ERC)/设计规则检查(DRC)/布局与原理图(LVS) 和生产的设计数据-准备好GDSII 导出。此外，强大的良率分析和优化可解决制造公差问题，从而实现更稳健的设计和更高的盈利能力。

8. 定制

强大的应用程序编程接口(API) 使用流行的编程语言扩展软件的功能，提供用户定义的脚本来自动执行常见或复杂的任务以及自定义设计流程。

软件特点

1.AWR设计环境

1. NI AWR 15 包括一个全面的组件库和集成的AWRAPLAC 谐波平衡引擎，用于非线性、频域和时域分析以及数字调制设备的电路包络。 AWR Visual System Simulator (VSS) 通信和雷达系统设计软件，通过射频前端/传播通道提供基带端到端仿真的行为建模和分析，以开发系统架构、收发器和天线阵列。

2. AWR AXIEM 3D 平面电磁分析软件，提供快速求解器技术，可轻松表征和优化RF PCB、模块、LTCC、MMIC 和RFIC 上的天线、无源结构、传输线和大型平面器件。

3. AWR Analyst 任何3D FEM EM 仿真软件都可以快速准确地分析非平面结构，例如喇叭和线基天线、波导结构、谐振器和组件外壳，以及常见或复杂的互连技术（例如焊线） 、球栅阵列和过孔。

2、应用与技术

1. 微波组件

线性和非线性稳定性分析、阻抗匹配和滤波器合成等创新技术与增强的电路包络和强大的瞬态和谐波平衡模拟、负载牵引数据管理和强大的测量绘图/可视化功能相结合，以加快前端的速度和优化组件设计。设计自动化、直观的界面和脚本/定制支持产品开发的所有阶段。与系统和电磁模拟器的联合仿真提供了原位寄生参数提取、设计验证和符合标准的通信测试平台。

2. MMIC/RFIC、模块和板卡

仿真技术、自动化和设计流程的增强支持高频电子设备的物理设计，并提高复杂工艺技术的速度、准确性和设计管理，包括用于多芯片模块集成的混合技术设计。从射频信号路径到数字控制和直流偏置线以及电路/系统和电磁协同仿真的PCB 传输介质的精确建模，以及表面贴装元件、互连传输线、嵌入式/嵌入式/分布式无源元件和电磁验证的完整PCB 分析。

3、雷达和天线

EM 技术模拟天线的增益、回波损耗、辐射效率和电流规格。相控阵模型使天线阵列规划人员能够根据测量或模拟的辐射元件数据构建自定义配置，以研究波束控制、塑造主波束和旁瓣，并了解波束控制对驱动器输入阻抗的影响。设计自动化和仿真/建模技术准确地表示信号生成、传输、相控阵、T/R 切换、杂波、噪声、干扰和信号处理，使用户能够应对现代雷达系统的设计挑战。

4、无线通讯

仿真模型和波形结构支持最流行的无线标准，包括DVB-H/DVB-T、WiMAX/802.16d-2004/802.16e-2005（移动和固定）、CDMA2000、GSM/EDGE、WLAN/802.11a/b/g 和802.11ac、3G WCDMA FDD、IS95 等。支持带内/带间分量载波的载波聚合、组合分量载波的吞吐量测量以及5G 候选调制波形，并增加了包括信号生成和全频段解调在内的功能。系统仿真，例如相邻信道功率比(ACPR)、误差矢量幅度(EVM) 和误码率(BER) 测量。